融合镀层市场需求，设计岀的一款性能高的Vanta手持(XRF)金属镀层光谱仪。适用于镀层厚度测量及材料分析，具有无损，可靠，高生产力，高灵活性等优点，可用来定性分析样品的元素组成，也可用于镀层和镀层系统的厚度测量，广泛应用于电路板、半导体、电镀、五金产品、汽车零部件、卫浴洁具、珠宝等工业中的功能性镀层电镀槽液中的成分浓度分析。
客户一般使用奥林巴斯Vanta™手持式X射线荧光（XRF）光谱仪*来确定合金，金属和其他材料的化学成分，但您是否知道还可以使用手持式XRF光谱仪测量涂层镀层的厚度？奥林巴斯Vanta手持式XRF光谱仪可以测量金属，塑料，玻璃甚至木材上涂层镀层的厚度。
Vanta-手持金属镀层光谱分析仪技术规格
外型尺寸（宽 × 高 × 厚） | 8.3×28.9×24.2cm |
重量 | 手持式光谱仪带电池时1.70公斤；不带电池时1.48公斤 |
激励源 | 4瓦特X射线管，其根据不同应用而优化的阳材料包括铑（Rh）、银（Ag）和钨（W）。 M系列Vanta手持（XRF）金属镀层光谱仪（Rh和W）和C系列（Ag）：8～50 kV；C系列手持式光谱仪（Rh和W）：8～40kV；L系列Vanta手持（XRF）金属镀层光谱仪 |
主光束过滤 | 每个模式每条光束有8个位置的自动选择过滤器 |
探测器 | M系列Vanta手持（XRF）金属镀层光谱仪：大区域硅漂移探测器；C系列手持式光谱仪：硅漂移探测器 |
电源 | 可拆装的14.4V锂离子电池或18V电源变压器，100～240VAC，50～60 Hz，大70 W |
显示 | 800×480（WVGA）液晶电容式触摸屏，可使用手指进行控制 |
操作环境 | 温度：–10°C～50°C（带可选风扇时，可连续工作）；湿度：相对湿度为10%～90%，无冷凝 |
坠落测试 | 通过了美军标准810-G的1.3米高坠落测试 |
IP评级 | IP65*：防尘，而且可防止来自各个方向的水喷 |
压力校正 | 内置气压计，用于海拔和空气密度的自动校正 |
GPS | 嵌入式GPS/GLONASS接收器 |
操作系统 | Linux |
数据存储 | 4GB嵌入存储，带有microSD卡插槽，可扩展存储容量 |
USB | 两个USB 2.0 A型主端口，用于诸如Wi-Fi、蓝牙和USB闪存驱动盘等配件。 一个USB 2.0袖珍B型端口，用于连接计算机 |
Wi-Fi | Vanta手持（XRF）金属镀层光谱仪通过可选购USB适配器，支持802.11 b/g/n（2.4GHz） |
蓝牙 | Vanta手持（XRF）金属镀层光谱仪通过可选购USB适配器，支持蓝牙和蓝牙低能功能 |
瞄准摄像头 | 全VGA CMOS摄像头Vanta手持（XRF）金属镀层光谱仪 |
全景摄像头 | 5百万像素CMOS摄像头，带自动聚焦透镜 |
Vanta-手持金属镀层光谱分析仪–涂层镀层材料的其他常见应用：
1.屏蔽电子设备：导电涂层镀层用于帮助屏蔽塑料设备；
2.建筑表面处理：涂层镀层可保护铁和钢免受锈蚀，铜和黄铜不会失去光泽，锌和铝可以防污渍；
3.太阳能电池：许多太阳能电池都有薄合金或聚合物涂层镀层；
4.工具钢：钛和碳化钨有助于提高耐磨性和耐用性；
5.电气布线：锌和镍涂层镀层正在取代传统的镉涂层镀层。
Vanta-手持金属镀层光谱分析仪如何测量涂层镀层
Vanta手持式XRF光谱仪可根据材料测量0.00至约60.00微米的涂层镀层厚度。X射线从手持式XRF光谱仪发出，它们撞击样品，使其发出荧光。用于材料成份辨别（PMI）的Vanta-手持金属镀层光谱分析仪如：
用于材料成份辨别（PMI）的Vanta手持(XRF)金属镀层光谱仪，可为用户提供为精细的材料化学成份信息，从而可快速精确地辨别金属的牌号，以确保用户在关键的位置上安装牌号正确的合金部件。接收返回的的X射线并使用数据计算涂层镀层或涂层镀层的厚度。
